特許
J-GLOBAL ID：200903094628468664
超音波による被検体の結晶粒径測定方法及び装置並びにそれを利用した熱処理方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-161056
公開番号（公開出願番号）：特開平8-075713
出願日： 1995年06月27日
公開日（公表日）： 1996年03月22日
要約：
【要約】【目的】 被検体の結晶粒径を高精度に測定することを可能にした超音波による被検体の結晶粒径測定方法及び装置並びにそれを利用した鋼帯等の熱処理方法及び装置。【構成】 被検体の超音波散乱減衰の周波数特性を求め、この超音波散乱減衰の周波数特性に、レ-リ-散乱式を適用することにより被検体の結晶粒径を求める方法及び装置において、レ-リ-散乱式を適用する際にその散乱減衰項のみを用い、そして、超音波散乱減衰量の近似する周波数範囲を、被検体底面の反射エコーのうち、2番目の反射エコー周波数特性におけるピーク周波数と、ピークの半減値をとる2つ周波数の2つの値のうち高周波側の周波数との間に設定する。又、このような装置を熱処理炉の前後に配置してその測定結果に基づいて熱処理炉の燃焼・板速度を制御することにより均一な結晶粒径の鋼帯を製造する。
請求項（抜粋）：
被検体に超音波パルスを送波し、被検体の底面からの多重反射エコー列の内、2つの反射エコーをそれぞれ周波数解析し、減算することにより超音波パルスの減衰による周波数特性を求め、この周波数特性に所定の補正処理を施すことにより、被検体の超音波散乱減衰の周波数特性を求め、この超音波散乱減衰の周波数特性に、レーリー散乱式を適用することにより被検体の結晶粒径を求める方法において、レーリー散乱式を適用する際にその散乱減衰項のみを用い、そして、超音波散乱減衰量の近似する周波数範囲を、被検体底面の反射エコーのうち、2番目の反射エコーの周波数特性におけるピーク周波数と、ピークの半減値をとる2つの周波数の2つの値のうち高周波側の周波数との間に設定したことを特徴とする超音波による被検体の結晶粒径測定方法。
IPC (2件)：
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