特許
J-GLOBAL ID：200903094665074250
放射性表面汚染検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-135385
公開番号（公開出願番号）：特開平10-325876
出願日： 1997年05月26日
公開日（公表日）： 1998年12月08日
要約：
【要約】【課題】 作業効率と汚染部位特定の精度とが共に良好な放放射性表面汚染検出装置を提供する。【解決手段】 プローブユニット10の検出面12aには、放射線検出用の複数の検出器が所定のパターンで配列されている。プローブユニット10の検出面の裏側の面には、複数の発光ダイオード18が検出器の配列パターンに対応したパターンで配列されている。各発光ダイオード18は、それぞれ、対応する検出器の検出パルスによって駆動される。各発光ダイオード18の点灯の頻度により、検出面12aの各部分での汚染の強さをそれぞれ判別できる。
請求項（抜粋）：
測定対象表面の放射性物質による汚染を検出する放射性表面汚染検出装置であって、検出面に沿って所定の配列パターンに従って配列された複数の半導体放射線検出器を有する手持ち型のプローブユニットと、前記半導体放射線検出器の配列パターンに対応して配列された複数の表示セグメントからなる表示手段と、を有し、前記各半導体放射線検出器の検出信号に基づき前記表示手段の各表示セグメントの表示状態を制御する放射性表面汚染検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
審査官引用 (3件)
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特開平2-259589
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特開平2-259589
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特開平2-259589
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