特許

J-GLOBAL ID：200903094693310695

故障検出装置

発明者： 晶貴 輝一
出願人/特許権者： 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
代理人 (1件)： 渡辺 喜平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-117109
公開番号（公開出願番号）：特開2000-304825
出願日： 1999年04月23日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
要約：

【要約】【課題】 マルチプレクサに配置されたクロックドバッファの故障を出荷検査時に発見することが困難であった。【解決手段】 マルチプレクサ13のAおよびBの値が反転状態であることから、マルチプレクサ13のクロックドバッファ13aを介した値なのか、あるいは、クロックドバッファ13bを介した値なのかをLSIチップの任意の端子に出力することにより、専用のテストベンチにて故障を発見するため、マルチプレクサ13に配置されたクロックドバッファ13aの故障を出荷検査時に発見することが可能となる。

請求項（抜粋）：

二つのクロックドバッファが並列に配置されたマルチプレクサにて、各クロックドバッファの入力側に接続された第一および第二の入力端子への各入力値を互いに反転状態に設定するCMOSタイプの入出力ポートを備えることを特徴とする故障検出装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  H03K 19/00

FI (2件)：

G01R 31/28 V ,  H03K 19/00 B

Fターム (12件)：

2G032AA00 ,  2G032AE07 ,  2G032AG07 ,  2G032AK14 ,  2G032AL14 ,  5J056AA01 ,  5J056AA04 ,  5J056BB60 ,  5J056CC00 ,  5J056CC14 ,  5J056DD29 ,  5J056EE11