特許
J-GLOBAL ID:200903094704502915
発光ダイオード・ベースの測定システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
山川 政樹
, 山川 茂樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-522664
公開番号(公開出願番号):特表2007-501394
出願日: 2004年08月03日
公開日(公表日): 2007年01月25日
要約:
種々の発光ダイオード(LED)ベースの測定システムおよび方法が提供されている。1つのシステムは、標本(10)の流路(20)に沿って配置されたLED(14,16,18)の1ないしは複数のアレイを含む。アレイ(1ないしは複数)は、標本が流路に沿って移動するときに標本を照明するように構成される。またシステムは、アレイ(1ないしは複数)による標本の照明の結果として得られる光を検出するように構成された1ないしは複数の検出器(24)も含む。1つの方法は、微小球の流路に沿った異なる位置において微小球を照明することを含む。またこの方法は、照明の結果として得られる光を検出し、異なる位置における照明に対応する個別の出力信号を生成することも含む。さらにこの方法は、個別の出力信号を合成し、当該個別の出力信号の信号対ノイズ比より高い信号対ノイズ比を有する単一の出力信号を生成することを含む。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
微小球を含む標本の流路に沿って配置された発光ダイオードのアレイであって、前記標本が前記流路に沿って移動するときに前記標本を照明するように構成された前記アレイと、
前記アレイによる前記標本の照明の結果として得られる光を検出するように構成された1ないしは複数の検出器であって、前記照明の結果として得られる光が前記標本によって放射される蛍光を含む、前記検出器と、
を包含する測定システム。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (12件)
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米国特許第5,736,330号
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米国特許第6,139,800号
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米国特許第6,366,354号
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米国特許第6,411,904号
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米国特許第6,524,793号
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米国特許第5,981,180号
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米国特許第6,057,107号
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米国特許第6,268,222号
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米国特許第6,449,562号
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米国特許第6,514,295号
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米国特許第6,528,165号
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米国特許第6,046,807号
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審査官引用 (1件)
引用文献:
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