特許
J-GLOBAL ID：200903094730352336
発光分光分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-259994
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083096
出願日： 1999年09月14日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：
【要約】【課題】 スパーク放電の不安定性などに起因するデータの片寄りを排除して、精度の高い分析を行う。【解決手段】 多数回の繰返し放電に対して得られた時系列的なスペクトル線強度データを、所定の時間幅ΔT毎に区切り、各時間区間T1〜T4に含まれるデータ列毎に分布曲線L1〜L4を作成する。そして、分布曲線の形状が正規分布であるものを選択し、その中で分散が最小となるような時間区間を見つけ、その分布曲線において最高頻度を与える強度値P3を、その分析におけるスペクトル線強度値として確定する。
請求項（抜粋）：
スパーク放電を励起光源とし、試料から発せられた光を波長分散して、或る元素に対応する特定波長の光を検出器で検出する発光分光分析装置において、a)多数回のスパーク放電に対して検出器で時系列的に得られるスペクトル線強度データを、所定の時間幅毎又は所定データ数毎に区分するデータ区分手段と、b)その区分された複数のデータ毎に、スペクトル線強度の出現頻度を示す分布曲線を求める分布調査手段と、c)その複数の各分布曲線を基に、それぞれが正規分布又はそれに近い分布であるか否かを判定し、正規分布でないと判定された区分に含まれるデータを除外して、その残りのデータに基づいて、その分析におけるスペクトル線強度値を算出する強度値算出手段と、を備えることを特徴とする発光分光分析装置。
Fターム (16件)：
2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043BA07
, 2G043CA05
, 2G043EA09
, 2G043FA03
, 2G043GA08
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043JA04
, 2G043LA02
, 2G043MA01
, 2G043MA16
, 2G043NA01
, 2G043NA02
, 2G043NA06
