特許

J-GLOBAL ID：200903094749227303

ゴム変形度の検出方法

発明者： 佐々木 康史
出願人/特許権者： 富士ポリマテック株式会社
代理人 (1件)： 松田 省躬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-163320
公開番号（公開出願番号）：特開平5-332707
出願日： 1992年06月01日
公開日（公表日）： 1993年12月14日
要約：

【要約】【目的】 ゴムの変形度の簡単な検出方法【構成】 検体ゴムの内部に導電性のゴムを2層配し、変形後の両層の電気抵抗値の比により検体の変形度を検出する方法。

請求項（抜粋）：

検体のゴム内部に間隔をおいて2層の導電性のゴムを配し、この検体を屈曲させて各導電性ゴムの電気的抵抗値の比によるゴムの変形度の検出方法。