特許
J-GLOBAL ID：200903094756637282
穀物検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-345852
公開番号（公開出願番号）：特開平5-177150
出願日： 1991年12月27日
公開日（公表日）： 1993年07月20日
要約：
【要約】【目的】 整粒の粒径分布に基づく穀物品位を測定することにより差別化をはかる。【構成】 サンプリング籾を受けて脱ぷ処理と粒選別処理とを行ないながら屑粒と整粒とに分離選別し夫々の重量を計量する自主検定装置Aと、上下複数段に配設された粒選別筒21,22によって整粒を複数段階に分離選別し夫々の重量を計量する粒径評価装置Bと、籾・屑粒・大小整粒を仕分けて袋詰めするパック装置Cと、粒径評価装置Bからの各整粒の重量データを入力して粒径評価による穀物品位を算出する制御部Dとからなり、自主検定装置Aで選別された整粒を次段の粒径評価装置Bに送り複数ランクに仕分けて、各重量を知って品位判定する構成である。
請求項（抜粋）：
サンプリング籾を受けて脱ぷ処理と粒選別処理とを行ないながら屑粒と整粒とに分離選別し夫々の重量を計量する自主検定装置Aと、上下複数段に配設された粒選別筒21,22によって整粒を複数段階に分離選別し夫々の重量を計量する粒径評価装置Bと、籾・屑粒・大小整粒を仕分けて袋詰めするパック装置Cと、粒径評価装置Bからの各整粒の重量データを入力して粒径評価による穀物品位を算出する制御部Dとからなる穀物検査装置。
引用特許：
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