特許
J-GLOBAL ID:200903094771334903

自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 作田 康夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-192534
公開番号(公開出願番号):特開2005-030763
出願日: 2003年07月07日
公開日(公表日): 2005年02月03日
要約:
【課題】高濃度の検体を再検査なしに測定結果を出すことができる。また、反応容器内外に付着した気泡などによる測光不良を低減させることができる。これにより再検率を大幅に低減することができ、結果報告の迅速化・効率化を図ることができる。【解決手段】複数の光路長を持つ反応容器内で試料と試薬を反応させて、反応容器を回転させることにより多重測定を行う。さらに、光路長ごとの測定値を特定の光路長の値に換算し平均値を測定結果として出力することにより安定したデータを提供することを可能にする。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
複数の反応容器と、 該反応容器に試料を供給する試料供給機構と、 該反応容器に試薬を供給する試薬供給機構と、 試料と試薬の入った前記反応容器に光を照射する光源と、 該反応容器を透過してきた前記光源からの光の変化を測定する測光機構と、 前記光源と前記測光機構とを結ぶ光軸を、前記複数の反応容器が順次横切るように移動させる反応容器搬送機構と、を備えた自動分析装置において、 前記反応容器は、反応容器の断面内にある回転軸を中心に回転する機構を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (1件):
G01N35/02
FI (1件):
G01N35/02 A
Fターム (6件):
2G058CC14 ,  2G058CC18 ,  2G058CD04 ,  2G058CD15 ,  2G058GA03 ,  2G058GD03

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