特許
J-GLOBAL ID：200903094809792145
発光素子の特性測定回路
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-172500
公開番号（公開出願番号）：特開平5-018829
出願日： 1991年07月12日
公開日（公表日）： 1993年01月26日
要約：
【要約】【目的】 発光素子におけるパルス信号の立ち上がり時間または立ち下がり時間を、簡易な方法で短時間にしかも精度よく測定する。【構成】 発光素子10の出力光パルス信号100を受光素子11と前置増幅器12で電気信号101に変換し、その後微分回路30で微分して微分信号102のピーク電圧をピークホールド回路31で検出し、電圧計32で表示する。光パルス信号100の立ち上がり時間または立ち下がり時間は、微分信号102のピーク電圧は反比例するため、電圧値より容易に算出することができる。
請求項（抜粋）：
光パルス信号を電気信号に変換する受光素子と、前記電気信号を一定振幅の信号に増幅する前置増幅部と、前記前置増幅器の出力信号を微分する微分部と、前記微分部の出力信号の振幅を検出する検出部と、前記検出部の出力信号を表示する表示部とからなることを特徴とする発光素子の特性測定回路。
IPC (4件)：
G01J 11/00
, G01J 1/00
, G01M 11/00
, G01R 31/26
