特許
J-GLOBAL ID:200903094851056629

光波測距装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西澤 利夫 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-273253
公開番号(公開出願番号):特開平9-113623
出願日: 1995年10月20日
公開日(公表日): 1997年05月02日
要約:
【要約】【課題】 多重反射/迷光/プリズム定数等反射鏡によって変化してしまう、測定距離の関数で表される光波測距装置の測距誤差をなくして測距精度を向上させ、低価格で高精度長距離の光波測距装置を可能とする。また、反射鏡を変更しても、光波測距装置の煩わしい設定変更等を省略し、効率的に短時間で測定作業を終了する。【解決手段】 測定点に置かれた反射鏡に向かって強度変調信号を出射する発光手段、前記反射鏡より反射されて戻ってきた変調光を受光する受光手段、発光手段と受光手段の変調信号の位相差を計測する位相測定手段と、位相測定結果より得られた測定点までの距離から誤差成分を除去する補正演算手段、および反射鏡識別手段とを備え、前記反射鏡識別手段により、前記反射鏡の条件に対応した補正演算を行う。
請求項(抜粋):
測定点に置かれた反射鏡に向かって強度変調信号を出射する発光手段、反射鏡より反射されて戻ってきた変調光を受光する受光手段、発光手段と受光手段の変調信号の位相差を計測する位相測定手段、この位相測定手段による測定により得られた測定点までの距離から誤差成分を除去する補正演算手段、および反射鏡識別手段とを備えた光波測距装置であって、反射鏡識別手段によって反射鏡の条件に応じた補正演算を行うことを特徴とする光波測距装置。
IPC (3件):
G01S 17/36 ,  G01C 3/06 ,  G01S 7/48
FI (3件):
G01S 17/36 ,  G01C 3/06 Z ,  G01S 7/48 A

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