特許
J-GLOBAL ID：200903094890084214
成形用スタンパの歪み測定方法および測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木下 實三 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-225570
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083624
出願日： 1993年09月10日
公開日（公表日）： 1995年03月28日
要約：
【要約】【目的】スタンパの歪みを簡便かつ高精度に測定できる成形用スタンパの歪み測定方法および測定装置の提供。【構成】成形品の表面に刻印するスタンパ3に格子模様11を有する参照模様板10を対向配置し、スタンパ3に格子模様11を反射させてできる像が元の模様から変形した程度に基づいてスタンパ3の表面の歪みの大きさを測定する。測定対象となるスタンパ3の反射像を写真機30で撮影して得た写真を、歪みのないスタンパ3の反射像の写真と比較すれば、簡便かつ高精度に歪み測定ができるようになるうえ、反射像が得られれば測定可能となるため、スタンパ3を金型5に取付けた状態でも測定が行える。
請求項（抜粋）：
成形品の表面に所定の刻印を行うスタンパに所定形状の模様を反射させてできる像が元の前記模様から変形した程度に基づいて前記スタンパの表面の歪みの大きさを測定することを特徴とする成形用スタンパの歪み測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/16
, G11B 7/26
, G11B 11/10 541
