特許
J-GLOBAL ID:200903094903545089

マスクされた円錐ビーム投影データの処理によって発生した画像の誤差の補正を簡易化する方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 矢野 敏雄 ,  山崎 利臣 ,  久野 琢也 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-536967
公開番号(公開出願番号):特表2004-517389
出願日: 2001年10月04日
公開日(公表日): 2004年06月10日
要約:
ここに記載されているのは、物体の3次元(3D)コンピュータトモグラフィ(CT)イメージングに対する方法および装置であり、ここでは画像再構成処理が、2D円錐ビーム投影データの複数の集合に適用され、各集合は、相応する複数のスキャンパス放射源位置において2D検出器上で収集される。最初の画像再構成処理ステップでは投影データの各集合にマスクが適用され、これによって各マスクの境界内のデータにより、相応する複数のマスクされた2Dデータの集合が形成される。つぎにマスクされたデータの各集合内のデータが、このマスクされた2Dデータの集合に形成される線分に沿って処理されて、データの第1の2D推定値が形成される。ここで上記の線分は、マスク境界によって決定される端点を有しており、上記の第1の2D推定値は、2D円錐ビーム投影データの所定の集合から決定される。つぎのステップでは、データの各第1推定値に対して2D補正データが形成され、ここでこれはマスクされた投影データの部分に1次元(1D)畳込み処理を行うことによって行われ、これによって上記の2D補正データが作成される。最後のステップでは、物体の精確な3D画像を再構成する処理において、データの各第1推定と、組み合わせのために計算された2D補正データとが組み合わせられる。
請求項(抜粋):
物体の3次元(3D)コンピュータトモグラフィ(CT)イメージングに対する方法および装置において、 前記物体を照射することによって2D円錐ビーム投射データの複数の集合を収集し、ここで当該照射は、前記物体の周りに配置された相応する複数のスキャンパス放射源位置にて、2D検出器に向かって配向された円錐ビーム源からのエネルギーで行われ、 前記2D円錐ビーム投影データの各集合にマスクを適用して、相応する複数のマスクされた2Dデータの集合を形成し、 2D円錐ビーム投影データにて複数の線分L(s,θ)に沿って線積分を処理し、ここで該線分は、マスクされた2Dデータの各集合の境界によって定められる端点を有しており、当該処理によって相応する処理された2Dデータの集合が形成され、処理された2Dデータの各集合は、2D円錐ビーム投影データの所定の集合に対して決定される第1データ推定値の計算に相応し、 各第1データ推定値に対して2D補正データを形成し、ここで当該形成は、前記のマスクされた投射データの部分に1次元(1D)畳込み処理を実行することによって行われ、これによって前記の2D補正データが形成され、 前記物体の精確な3D画像を再構成する画像再構成処理中に、各第1データ推定値と、組み合わせのために形成された前記2D補正データとを組み合わせることを特徴とする、 物体の3次元(3D)コンピュータトモグラフィ(CT)イメージングに対する方法および装置。
IPC (1件):
G06T1/00
FI (1件):
G06T1/00 290B
Fターム (7件):
5B057AA09 ,  5B057BA03 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CD12

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