特許
J-GLOBAL ID：200903094977880459
パラメタ推定装置及びデータ照合装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鷲田 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-275874
公開番号（公開出願番号）：特開2004-030552
出願日： 2002年09月20日
公開日（公表日）： 2004年01月29日
要約：
【課題】観測対象のパターンから、観測に対応する特徴パターンを格段に少ない計算コストで推定すること。【解決手段】本発明は、入力となる観測パターンと、入力から求めたい出力を想定した推定対象のパターンとの相関を学習させるために、観測パターンからなる第一の教示ベクトルと、推定対象からなる第二の教示ベクトルを入力し、前記の二つの教示ベクトルの自己相関情報、平均ベクトルおよび第一の教示ベクトルと第二の教示ベクトルとの相互相関情報を計算しておき、これを用いて入力パターンに対して推定対象のベイズ理論に基づく確率的期待値を求めることによって少ない計算コストで精度よく所望のパラメタを推定するものである。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光学データを電子データに変換する画像入力部と、前記画像入力部から入力された第1の電子データから第1の特徴点の座標を入力するパラメタ入力部と、複数の前記第1の電子データから自己相関情報を算出し、複数の前記第1の電子データ及び複数の前記第1の特徴点の座標から相互相関情報を算出し、前記自己相関情報及び前記相互相関情報から前記画像入力部から入力される第2の電子データの第2の特徴点の座標を推定するための特徴抽出行列を算出し、複数の前記第1の電子データから算出される第1の平均ベクトル、複数の前記第1の特徴点の座標から算出する第2の平均ベクトル及び前記特徴抽出行列を出力する学習部と、前記学習部から入力される前記第1の平均ベクトル、前記第2の平均ベクトル及び前記特徴抽出行列を蓄積する相関情報データベースと、前記第2の電子データ、前記第1の平均ベクトル、前記第2の平均ベクトル及び前記特徴抽出行列を用いて前記第2の特徴点の座標を推定するパラメタ推定部とを含むパラメタ推定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06T7/00 300F
, G06T1/00 340A
5B057BA02
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057DA06
, 5B057DB02
, 5B057DC05
, 5B057DC33
, 5B057DC36
, 5L096BA18
, 5L096CA02
, 5L096FA32
, 5L096FA34
, 5L096FA69
, 5L096HA07
, 5L096JA11
, 5L096KA04
