特許
J-GLOBAL ID:200903095020308393
メモリ診断処理装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
磯村 雅俊
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-066600
公開番号(公開出願番号):特開平6-282499
出願日: 1993年03月25日
公開日(公表日): 1994年10月07日
要約:
【要約】【目的】 メモリ診断処理において、主記憶装置のバンクの構成によらず、ブロックサイズを分割し、全ブロックにわたる故障でも検出可能とする。【構成】 テストモードと通常モードの二つのモードを有する主記憶制御装置2を用い、テスト時において、主記憶装置3が恰も複数バンク構成になっているかのようにアクセスする。また、診断部21は、AND演算処理41とOR演算処理42と書き込みデータの三つを比較することにより、1回の演算対象ビット全てにわたって故障している場合でも故障を検出する。
請求項(抜粋):
CPUおよび主記憶装置を有する情報処理装置において、テストモードと通常モードを有し、テストモードではアドレスデコードの全出力をONする手段、任意に区分けされた全メモリブロックの出力のAND処理結果とOR処理結果を各々書き込みデータと比較する手段、および、CPUに対してメモリ診断結果を通知する手段を有する主記憶制御装置と、該主記憶制御装置の要求に基づき、任意に区分けされた全メモリブロックの出力をAND処理およびOR処理する手段を有する演算装置とを備えたことを特徴とするメモリ診断処理装置。
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