特許

J-GLOBAL ID：200903095042989122

診断機能を有する半導体集積回路

発明者： 西川 嘉一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 萩野 平 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-354735
公開番号（公開出願番号）：特開2001-166009
出願日： 1999年12月14日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：

【要約】【課題】 半導体集積回路に接続される接続線を最小限にして、半導体集積回路の動作状態を診断すること。【解決手段】 シフトレジスト可能に構成された複数のフリップフロップを有するスキャンパス設計されたスキャンチェーン構成ブロック2と、ブロック2でシフトされた乱数パターンを所要ビット分格納するシフトレジスタ3と、ブロック2に供給される乱数パターンを所要ビット分格納するシフトレジスタ4と、シフトレジスタ3、4に格納された各乱数パターンのそれぞれ対応するビットを比較し、ブロック2の正常動作を確認するため、各乱数パターンの全てのビットが互いに一致又は不一致であることを検出する比較器5と、を具備した。

請求項（抜粋）：

乱数パターンが供給され、シフトレジスト可能に構成された複数のフリップフロップを有するスキャンパス設計された論理回路と、前記論理回路でシフトされた乱数パターンを所要ビット分格納する第1のシフトレジスタと、前記論理回路に供給される乱数パターンを所要ビット分格納する第2のシフトレジスタと、前記第1及び第2のシフトレジスタに格納された各乱数パターンのそれぞれ対応するビットを比較し、前記論理回路の正常動作を確認するため、各乱数パターンの全てのビットが互いに一致又は不一致であることを検出する比較手段と、を具備したことを特徴とする診断機能を備えた半導体集積回路。

IPC (4件)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/66 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (3件)：

H01L 21/66 H ,  G01R 31/28 V ,  H01L 27/04 T

Fターム (30件)：

2G032AA01 ,  2G032AB02 ,  2G032AC03 ,  2G032AC10 ,  2G032AG05 ,  2G032AH07 ,  2G032AK11 ,  2G032AK16 ,  2G032AK19 ,  4M106AA04 ,  4M106AC13 ,  4M106BA14 ,  4M106CA01 ,  4M106CA27 ,  4M106CA56 ,  4M106CA59 ,  4M106DH02 ,  4M106DJ18 ,  4M106DJ20 ,  5F038DF01 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038DF14 ,  5F038DT03 ,  5F038DT04 ,  5F038DT06 ,  5F038DT07 ,  5F038DT08 ,  5F038DT10 ,  5F038DT17

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平2-027275