特許
J-GLOBAL ID:200903095056775168
有害物質分析方法及びこれに使用する有害物質抽出装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-333839
公開番号(公開出願番号):特開2003-139750
出願日: 2001年10月31日
公開日(公表日): 2003年05月14日
要約:
【要約】【課題】 被汚染物に含有される有害物質を簡単かつ迅速に分析することができる有害物質分析方法及びこれに使用する有害物質抽出装置を提供する。【解決手段】 水溶性有機溶媒の水溶液からなる抽出液1でガーゼ11中のPCBを抽出する溶媒抽出工程S-1と、PCBを抽出した抽出液1に水2を加えて抽出液1を希釈する希釈工程S-2と、希釈された抽出液1からPCBをシリカゲル系やアルミナ系や活性炭等の吸着材128により吸着抽出する固相抽出工程S-3と、吸着材128からPCBを溶出液3に溶出させる溶出工程S-4と、PCBを溶出した溶出液3中のPCBを分析する分析工程S-5とを行う。
請求項(抜粋):
被汚染物に含有される有害物質を分析する有害物質分析方法であって、水溶性有機溶媒の水溶液からなる抽出液で前記被汚染物中の前記有害物質を抽出する溶媒抽出工程と、前記有害物質を抽出した前記抽出液に水を加えて当該抽出液を希釈する希釈工程と、希釈された前記抽出液から前記有害物質を固体の吸着材により吸着抽出する固相抽出工程と、前記吸着材から前記有害物質を溶出液に溶出させる溶出工程と、前記有害物質を溶出した前記溶出液中の当該有害物質を分析する分析工程とを行うことを特徴とする有害物質分析方法。
IPC (6件):
G01N 30/00
, B01D 11/02
, G01N 30/08
, G01N 30/70
, G01N 30/72
, G01N 30/88
FI (6件):
G01N 30/00 E
, B01D 11/02 A
, G01N 30/08 G
, G01N 30/70
, G01N 30/72 A
, G01N 30/88 C
Fターム (10件):
4D056AB17
, 4D056AB19
, 4D056AC06
, 4D056AC08
, 4D056BA08
, 4D056CA17
, 4D056CA31
, 4D056CA33
, 4D056CA39
, 4D056DA05
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