特許

J-GLOBAL ID：200903095063252847

粒度測定装置及び粒度測定方法

発明者： 賀谷隆人 ,  相原秀一 ,  長原雄一
出願人/特許権者： コトブキ技研工業株式会社
代理人 (1件)： 山口 朔生 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-220392
公開番号（公開出願番号）：特開2003-035651
出願日： 2001年07月19日
公開日（公表日）： 2003年02月07日
要約：

【要約】【課題】本発明は、粒子の粒度を簡単に測定できるようにすること。【解決手段】粒子4の粒度を測定する粒度測定装置1において、粒子4が衝突する衝突振動材11と、衝突振動材11の振動を測定する振動測定装置12とを備え、粒子4が衝突振動材11に衝突した際に発生する衝突振動材11の振動を振動測定装置12で測定し、振動分布から粒子4の粒度を測定する、粒度測定装置。

請求項（抜粋）：

粒子の粒度を測定する粒度測定装置において、粒子が衝突する衝突振動材と、衝突振動材の振動を測定する振動測定装置とを備え、粒子が衝突振動材に衝突した際に発生する衝突振動材の振動を振動測定装置で測定し、振動分布から粒子の粒度を測定することを特徴とする、粒度測定装置。

IPC (2件)：

G01N 15/02 ,  G01N 29/00

FI (2件)：

G01N 15/02 D ,  G01N 29/00

Fターム (8件)：

2G047AA01 ,  2G047BA04 ,  2G047BC00 ,  2G047BC04 ,  2G047CA03 ,  2G047EA09 ,  2G047GG12 ,  2G047GG17