特許

J-GLOBAL ID：200903095096662404

逆コンプトン散乱光を利用した非破壊検査方法及び装置

発明者： 豊川 弘之 ,  大垣 英明 ,  嶋 達志
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-357003
公開番号（公開出願番号）：特開2002-162371
出願日： 2000年11月24日
公開日（公表日）： 2002年06月07日
要約：

【要約】【課題】 X線ラジオグラフィーやCTなどの装置には、数10 keV〜百数10 keV程度の比較的エネルギーの低いX線が使用されるため、人体より大きな物体や原子番号の高い元素から構成される物質の検査に適用することが困難であるという課題があった。【解決手段】 レーザ逆コンプトン光子を利用し、この光子が有する高指向性、準単色性、エネルギー可変性などの利点を利用し、物質の非破壊検査を行う。

請求項（抜粋）：

逆コンプトン散乱により生じた光子を被検査体へ照射し、その透過光を検出することにより、被検査体内部の物質の組成及び密度分布に関する情報を得る非破壊検査方法。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G21K 5/02

FI (2件)：

G01N 23/04 ,  G21K 5/02 X

Fターム (12件)：

2G001AA01 ,  2G001AA02 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001CA02 ,  2G001JA07 ,  2G001KA03 ,  2G001KA20 ,  2G001NA16 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12 ,  2G001SA02

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 電子/レーザ衝突型X線発生装置及びX線発生方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-068622   出願人：住友重機械工業株式会社
• 光核反応の反応断面積測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-158083   出願人：三菱重工業株式会社