特許

J-GLOBAL ID：200903095118079988

X線回折測定用試料ホルダーおよび試料固定方法

発明者： 林 一英
出願人/特許権者： 住友金属鉱山株式会社
代理人 (1件)： 田中 増顕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-342728
公開番号（公開出願番号）：特開2003-149174
出願日： 2001年11月08日
公開日（公表日）： 2003年05月21日
要約：

【要約】【目的】X線回折測定において粉末試料が配向しないことと測定面の高さが一定になることを両立できる試料ホルダーおよび試料固定方法を提供する。【構成】試料ホルダーは、貫通孔を有する板と、該貫通孔を塞ぐように板の片面に固着剤によって貼り付けられた有機膜と、粉末試料を固定するように前記有機膜の内面に付着させたコロジオン薄膜と、から成る。また、試料固定方法は貫通孔を有する板の片面に固着剤によって有機膜を貼り付け、有機膜の内面に付着させたコロジオン薄膜に粉末試料を固定する。

請求項（抜粋）：

貫通孔を有する板と、該貫通孔を塞ぐように板の片面に固着剤によって貼り付けられた有機膜と、粉末試料を固定するように前記有機膜の内面に付着させたコロジオン薄膜と、から成ることを特徴とするX線回折測定の試料ホルダー。

Fターム (6件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001MA04 ,  2G001QA02 ,  2G001RA08