特許

J-GLOBAL ID：200903095168857604

計測装置

発明者： 徳南 敬雄 ,  新村 紀夫
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-229743
公開番号（公開出願番号）：特開2004-069532
出願日： 2002年08月07日
公開日（公表日）： 2004年03月04日
要約：

【課題】本発明は計測装置の計測精度に関するものであり、測定回路の消費電力の増加を抑えつつ精度の向上ができる計測装置を実現することにある。【解決手段】通常測定モードの測定サンプリング周期TLを精密測定モードの測定サンプリング周期THより短くし、通常測定モードの測定サンプリング間隔の合間に精密測定モードの測定サンプリングを配し、流量計測は通常測定モードで計測し、ゼロ流量判定は精密測定モードで計測するようにする。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

一計測時の繰り返し測定数を多くして測定精度を高めた精密測定モードと、繰り返し測定数の少ない通常測定モードを設け、精密測定モードの測定サンプリング周期を通常測定モードの測定サンプリング周期より長くし、通常測定モードの合間に精密測定モードを配し、流量計測は通常測定モードで計測し、ゼロ流量判定は精密測定モードで計測するようにした計測装置。

IPC (3件)：

G01F1/66 ,  G01F3/22 ,  G01M3/28

FI (3件)：

G01F1/66 102 ,  G01F3/22 B ,  G01M3/28 A

Fターム (11件)：

2F030CA03 ,  2F030CB02 ,  2F030CC13 ,  2F030CE02 ,  2F030CE04 ,  2F030CE07 ,  2F035DA16 ,  2F035DA19 ,  2G067AA14 ,  2G067CC04 ,  2G067DD04