特許
J-GLOBAL ID：200903095262091461

秤量装置の校正方法および粉粒体供給装置

発明者：
高橋 清

高橋 清 について

, 
新開 修二

新開 修二 について


出願人/特許権者：
日清製粉株式会社

日清製粉株式会社 について


代理人 (1件)： 渡辺 望稔 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-023878
公開番号（公開出願番号）：特開2000-221075
出願日： 1999年02月01日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：
【要約】【課題】外部に接続された可撓体が被測定装置の重量測定結果に及ぼす影響を最大限に小さくでき、適正に重量測定を行うことができる秤量装置の校正方法およびこれを利用する粉粒体供給装置を提供する。【解決手段】被測定装置から外部に接続される可撓体を全て外して、秤量装置によって被測定装置のみの重量を測定して基準重量を得る工程と、可撓体を前記被測定装置に接続し、秤量装置による測定値が基準重量に応じて設定された所定範囲内となる位置に可撓体の固定位置を調整することを、可撓体1本ずつ行い、全ての可撓体を被測定装置に接続する、可撓体の取付調整工程とを有することにより、前記課題を解決する。
請求項（抜粋）：
可撓体によって外部に接続された被測定装置およびこの被測定装置に収納された内容物の重量を測定する秤量装置であって、前記内容物が収納された前記被測定装置の総重量を測定し、測定された総重量の変化を前記内容物の重量の変化とする秤量装置において、前記被測定装置から前記可撓体を全て外して、前記秤量装置によって前記被測定装置のみの重量を測定し、この測定結果から前記秤量装置の基準重量を得る工程と、前記可撓体を前記被測定装置に接続し、前記秤量装置による測定値が前記基準重量に応じて設定された所定範囲内となる位置に前記可撓体の固定位置を調整することを、可撓体1本ずつ行い、全ての可撓体を被測定装置に接続する、可撓体の取付調整工程とを有することを特徴とする秤量装置の校正方法。
IPC (4件)：
G01G 23/01 ,  B01J 4/02 ,  B65G 65/46 ,  G01G 13/08
FI (4件)：
G01G 23/01 Z ,  B01J 4/02 E ,  B65G 65/46 C ,  G01G 13/08 C
Fターム (26件)：
2F046AA00 ,  2F046AA01 ,  2F046BA09 ,  2F046BA11 ,  2F046BB02 ,  2F046EA02 ,  3F075AA08 ,  3F075BA02 ,  3F075BB01 ,  3F075CA04 ,  3F075CA09 ,  3F075CB01 ,  3F075CB04 ,  3F075CC03 ,  3F075CC05 ,  3F075CC09 ,  3F075CC15 ,  3F075CC19 ,  3F075DA04 ,  3F075DA30 ,  4G068AA02 ,  4G068AB22 ,  4G068AC11 ,  4G068AC17 ,  4G068AD33 ,  4G068AD45
引用特許：
審査官引用 (2件)

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