特許
J-GLOBAL ID：200903095285463935
偏光測定装置の調整方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
縣 浩介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-358488
公開番号（公開出願番号）：特開平5-180697
出願日： 1991年12月28日
公開日（公表日）： 1993年07月23日
要約：
【要約】【目的】 偏光測定装置の偏光基準面の調整作業を容易化する。【構成】 試料台に予め調整用偏光子を内蔵しておき、調整時これを試料台上にのせて、測定用各偏光素子および調整用偏光子を通して光を透過させ、調整用偏光子の基準面に各偏光素子を合わせる。
請求項（抜粋）：
偏光測定装置に偏光測定装置が本来有する測定用の偏光子,1/4波長板,検光子等の各偏光素子の他に調整用の偏光子を備えておき、調整時にこの調整用偏光子をその偏光基準面が偏光測定装置のゴニオメータ回転軸と略平行になるように試料台上に置き、任意の方位にある偏光子,1/4波長板,調整用偏光子,検光子を通して光を透過させ、光検出出力が0或は最大になるように検光子を回し、そのときの検光子の方位を記憶しておき、次に試料台を180°回わして、上と同じ操作を行って、前後2回の検光子の方位の中間方位を基準とし、他の偏向素子の方位を調整することを特長とする偏光測定装置の調整方法。
IPC (2件)：
前のページに戻る
