特許
J-GLOBAL ID：200903095287094872
液晶表示パネル作製用透明絶縁基板およびその各種特性検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 純之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-000944
公開番号（公開出願番号）：特開平8-190087
出願日： 1995年01月09日
公開日（公表日）： 1996年07月23日
要約：
【要約】【目的】透明絶縁基板上の所定の素子や層の各種特性検査を能率よく行い、また、自動検査を可能とする。【構成】2枚重ねて組み合せた透明ガラス基板SUB1、SUB2のうち、一方の基板SUB1上の切断線CT1の外側に、薄膜トランジスタや所定の層の各種特性検査用パターンおよび電極CTPを、該電極を等ピッチでまとめて配置し、かつ、信号線の各端子を共通に短絡した短絡線SHgと電気的に接続した構成。
請求項（抜粋）：
液晶表示パネル作製用透明絶縁基板上に、各種特性検査用パターンおよび電極をまとめて配置したことを特徴とする液晶表示パネル作製用透明絶縁基板。
IPC (4件)：
G02F 1/1333 500
, G01M 11/00
, G01R 31/00
, G02F 1/136 500
