特許
J-GLOBAL ID:200903095307002686

寸法測定器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中島 淳 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-274791
公開番号(公開出願番号):特開平8-136224
出願日: 1994年11月09日
公開日(公表日): 1996年05月31日
要約:
【要約】【目的】 容易かつ迅速に位置決めし、正確な寸法を測定することができる寸法測定器を提供する。【構成】 Z軸回転機構16及びY軸回転機構14によりケーシング11の姿勢を変更しつつ、被測定面20Bに照射されたスリット光18の反射光を受光し輝線22に対応したデジタル信号に基づいて隙間及び段差の寸法を演算する。そして演算装置は段差寸法の演算結果が最小であるか否かの判断及び隙間寸法の演算結果が最小であるか否かの判断を行い、演算結果が最小である時の段差寸法及び演算結果が最小である時の隙間寸法を液晶ディスプレイ12に表示する。
請求項(抜粋):
スリット光を被測定物に向けて射出する射出手段と、被測定物からのスリット光の反射光を受光し、被測定物表面上の輝線に対応した信号を出力する信号出力手段と、がケーシングに収納されて構成され、スリット光を被測定物に照射することにより被測定物の寸法を測定する寸法測定器であって、前記ケーシングの姿勢を変更可能に前記ケーシングを支持する支持手段と、前記信号出力手段から出力された輝線に対応した信号に基づいて、輝線を構成する線分の各々に対応する被測定物の部位の寸法を演算する演算手段と、前記演算手段による演算結果に基づいてスリット光が被測定物の部位の適切な寸法測定方向に沿って照射されているか否かを判断する判断手段と、前記判断手段によりスリット光が被測定物の部位の適切な寸法測定方向に沿って照射されていると判断された時の演算手段による演算結果を出力する出力手段と、を備えた寸法測定器。
IPC (2件):
G01B 11/02 ,  G01B 21/02

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