特許
J-GLOBAL ID:200903095310353023

中心位置計測用のターゲット、中心位置計測装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中島 淳 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-065566
公開番号(公開出願番号):特開2001-255118
出願日: 2000年03月09日
公開日(公表日): 2001年09月21日
要約:
【要約】【課題】 ターゲットから撮像面までの距離を長くしても、量子化誤差の影響を受けることなく高精度にターゲットの中心位置の計測を行う。【解決手段】 光学系12は、ターゲット11からの撮像光をCCDイメージセンサ13に入射させる。CCDイメージセンサ13は、入射される撮像光に基づいて撮像信号を生成し、A/Dコンバータ14を介して演算回路15に供給する。演算回路15は、ターゲット11の同心円のエッジ近傍の撮像信号に基づいて重点演算処理を行い、ターゲット11の中心位置を算出する。
請求項(抜粋):
画像を撮像して中心位置を計測する中心位置計測装置に用いる中心位置計測用のターゲットにおいて、照明光により高輝度に発光するパターンと、一方向に複数のエッジと、を備えたことを特徴とする中心位置計測用のターゲット。
IPC (3件):
G01B 11/00 ,  G01C 15/06 ,  G06T 7/60 150
FI (4件):
G01B 11/00 H ,  G01B 11/00 D ,  G01C 15/06 T ,  G06T 7/60 150 C
Fターム (22件):
2F065AA17 ,  2F065BB01 ,  2F065CC00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065LL50 ,  2F065NN02 ,  2F065NN12 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU09 ,  5L096AA11 ,  5L096FA04 ,  5L096FA06 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA69 ,  5L096JA18
引用特許:
審査官引用 (2件)

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