スキャンテスト回路および方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小栗昌平 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-291451
公開番号（公開出願番号）：特開2003-098223
出願日： 2001年09月25日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
要約：

【要約】【課題】電源遮断対象の機能ブロックの入出力部に存在する回路のテスタビリティを確保し、電源遮断時の制御状態の検証を容易にする。【解決手段】電源遮断対象の機能ブロックBの入力信号の前段および出力信号の後段に観測用フリップフロップ9、10を挿入し、電源遮断移行信号16により電源遮断対象回路ブロックBの入力信号の前段に位置する観測用フリップフロップ9をリセットし、これを用いて電源遮断時の機能ブロックの入力信号レベルを固定し、かつ電源遮断時の機能ブロックの出力信号レベルを固定し、観測用フリップフロップ9、10を連ねて1本のスキャンチェーンを構成し、電源遮断移行信号を解除後、スキャンシフト動作をさせて電源遮断時の制御が正常であるか否かの確認を行う。

請求項（抜粋）：

スキャンテスト機能を備え、個別に電源遮断が可能な電源遮断対象回路ブロックと常時電源供給回路ブロックを有するスキャンテスト回路において、前記電源遮断対象回路ブロックの入出力部の故障検出を行う入出力部故障検出手段と、前記電源遮断対象回路ブロックの電源遮断時に前記常時電源供給回路ブロックから前記電源遮断対象回路ブロックへ入力する信号レベルを固定するONブロック信号固定手段と、前記電源遮断対象回路ブロックの電源遮断時に前記電源遮断対象回路ブロックから前記常時電源供給回路ブロックへ出力する信号レベルを固定するOFFブロック信号固定手段と、前記ONブロック信号固定手段および前記OFFブロック信号固定手段の機能確認を行う状態固定信号確認手段と、を具備することを特徴とするスキャンテスト回路。

IPC (4件)：

G01R 31/28 , G01R 31/3185 , H01L 21/822 , H01L 27/04

FI (4件)：

G01R 31/28 G , G01R 31/28 W , H01L 27/04 M , H01L 27/04 T

Fターム (11件)：

2G132AA15 , 2G132AB01 , 2G132AC14 , 2G132AK23 , 2G132AL31 , 5F038DF01 , 5F038DF11 , 5F038DF16 , 5F038DT06 , 5F038DT12 , 5F038EZ20

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