測距方法、そのプログラム、そのプログラムを記録した記録媒体、測距装置及びこれを有するプロジェクタ

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：片山修平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-277810
公開番号（公開出願番号）：特開2005-043225
出願日： 2003年07月22日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：

【課題】詳細且つ高い信頼性で対象物までの距離を特定できる測距方法、そのプログラム、そのプログラムを記録した記録媒体、測距装置及びこれを有するプロジェクタを提供する。【解決手段】最小の相関値S(i)と、これと隣接するシフト量(i-1,i+1)の2つの相関値S(i-1),S(i+1)と、2つの相関値S(i-1),S(i+1)において大きい方の相関値(これをS(i-1)とする)に隣接し且つシフト量がiでない相関値(これはS(i-2)となる)との少なくとも合計4つに基づいて、画素ピッチ間を補間する。この際、点Pi(i,S(i))と点Pi-1(i-1,S(i-1))とを通る直線の傾きAと、点Pi(i,S(i))と点Pi-2(i-2,S(i-2))とを通る直線の傾きBとに基づいて傾きCを算出する。傾きCで点Pi(i,S(i))を通る直線(y=Cx+F)と、傾き-Cで点Pi+1(i+1,S(i+1))を通る直線(y=-Cx+G)との交点を位相差ΔXとして算出する。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

受光素子が配列された撮像手段を用いて同一の対象物を撮像することで取得された第1及び第2の画像の位相差に基づいて前記対象物までの距離を測定する測距方法であって、前記第1の画像における第1の画素領域に対する前記第2の画像における第2の画素領域の相関値を、該第2の画素領域の位置毎に算出する第1のステップと、前記相関値において最小値を示す第1の相関値を特定する第2のステップと、前記第1の相関値に対応する位置に隣接する位置での第2及び第3の相関値を特定する第3のステップと、前記第2及び第3の相関値のうち大きい方の相関値に隣接し且つ前記第1の相関値でない第4の相関値を特定する第4のステップと、前記第1から第4の相関値に基づいて前記受光素子間が補間された位相差を検出する第5のステップとを有することを特徴とする測距方法。

IPC (5件)：

G01C3/06 , G02B7/28 , G02B7/30 , G03B21/00 , G03B21/14

FI (6件)：

G01C3/06 V , G03B21/00 E , G03B21/14 D , G02B7/11 N , G02B7/11 A , G02B7/11 H

Fターム (16件)：

2F112AC01 , 2F112BA06 , 2F112CA01 , 2F112FA08 , 2F112FA21 , 2F112FA23 , 2F112FA45 , 2H051AA09 , 2H051BB07 , 2H051CE20 , 2H051CE21 , 2K103AA05 , 2K103AB10 , 2K103BC44 , 2K103CA53 , 2K103CA55

引用特許：

出願人引用 (2件)

特開平3-33707号公報
特開昭63-121005号公報

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