特許
J-GLOBAL ID:200903095347873353

保護回路を有する半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 敬四郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-316872
公開番号(公開出願番号):特開平7-169918
出願日: 1993年12月16日
公開日(公表日): 1995年07月04日
要約:
【要約】【目的】 過大電圧が印加されても劣化が生じにくく、信頼性の高い保護回路を有する半導体装置を提供する。【構成】 内部回路と、外部装置と信号の入出力を行うための入出力端子と、前記内部回路と前記入出力端子とを接続するための信号線と、前記信号線と第1の定電位配線とを接続する第1のpチャネルMOSFETと、前記第1のpチャネルMOSFETのゲート電極と、前記第1のpチャネルMOSFETの前記信号線に接続された電極とを接続する配線と、前記信号線と、前記第1の定電位配線の電位よりも高電位の第2の定電位配線とを接続する第2のpチャネルMOSFETと、前記第2のpチャネルMOSFETのゲート電極と、前記第2のpチャネルMOSFETの前記第2の定電位配線に接続された電極とを接続する他の配線とを含む。
請求項(抜粋):
内部回路と、外部装置と信号の入出力を行うための入出力端子(1)と、前記内部回路と前記入出力端子とを接続するための信号線(3)と、前記信号線と第1の定電位配線(Vss)とを接続する第1のpチャネルMOSFET(5)と、前記第1のpチャネルMOSFETのゲート電極と、前記第1のpチャネルMOSFETの前記信号線に接続された電極とを接続する配線と、前記信号線と、前記第1の定電位配線の電位よりも高電位の第2の定電位配線(Vdd)とを接続する第2のpチャネルMOSFET(4)と、前記第2のpチャネルMOSFETのゲート電極と、前記第2のpチャネルMOSFETの前記第2の定電位配線に接続された電極とを接続する他の配線とを含む半導体装置。
IPC (4件):
H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/12 ,  H01L 29/78
FI (2件):
H01L 27/04 H ,  H01L 29/78 301 K

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