射出成形機の異物検出方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：下田茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-370012
公開番号（公開出願番号）：特開2002-172670
出願日： 2000年12月05日
公開日（公表日）： 2002年06月18日
要約：

【要約】【課題】閾値を迅速かつ容易に設定するとともに、適確で信頼性の高い設定を行う。【解決手段】型閉工程における監視区間の型閉動作に伴う物理量を検出するとともに、当該物理量の検出値と予め設定した設定値との偏差Deが予め設定した閾値Ds以上になったなら異物検出処理を行うに際し、予め試型閉を行うことにより偏差Deの最大値を検出し、この最大値を予め設定した基準値に加算することにより閾値Dsを設定する。

請求項（抜粋）：

型閉工程における監視区間の型閉動作に伴う物理量を検出するとともに、当該物理量の検出値と予め設定した設定値との偏差が予め設定した閾値以上になったなら異物検出処理を行う射出成形機の異物検出方法において、予め試型閉を行うことにより前記偏差の最大値を検出し、この最大値を予め設定した基準値に加算することにより前記閾値を設定することを特徴とする射出成形機の異物検出方法。

Fターム (4件)：

4F206JA07 , 4F206JP14 , 4F206JP15 , 4F206JQ81

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平2-106315
特開平2-008025
特公平5-030609

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