特許
J-GLOBAL ID:200903095420491782
半導体装置のノイズ解析装置及び半導体装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
三好 秀和 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-345926
公開番号(公開出願番号):特開2000-174087
出願日: 1998年12月04日
公開日(公表日): 2000年06月23日
要約:
【要約】【課題】 集積回路などの半導体装置において、おもに電源系に発生するノイズ対策を効率良く行うことができるようにする。【解決手段】 電源系ネットリスト抽出手段11においてレイアウトデータ21から電源系ネットリスト22を抽出し、ブロック電源電流波形解析部13において各ブロックの電源電流波形であるブロック電源電流波形データ25を求める。電流源付加部14において電源系ネットリスト22にブロック電源電流波形データ25を付加し、電流源付加後電源系ネットリスト26を生成する。回路シミュレーション部15において電流源付加後電源系ネットリスト26に対して回路シミュレーションを行い、フーリエ変換部16において電源系電流電圧波形データ27をフーリエ変換してスペクトルデータ28を求め、この結果をシミュレーション結果表示部17で表示する。
請求項(抜粋):
解析対象となる半導体装置の電源系ネットリストを抽出する電源系ネットリスト抽出手段と、前記半導体装置中の各ブロックの電源電流波形を算出するブロック電源電流波形解析手段と、前記電源系ネットリストに前記算出した各ブロックの電源電流波形をもつ電流源を付加して電流源付加後電源系ネットリストを生成する電流源付加手段と、前記電流源付加後電源系ネットリスト対して回路シミュレーションを実行し、電源系の電流電圧波形データを出力する回路シミュレーション手段と、前記回路シミュレーションの結果を表示する表示手段とを備えることを特徴とする半導体装置のノイズ解析装置。
IPC (3件):
H01L 21/66
, G06F 17/50
, G01R 29/08
FI (3件):
H01L 21/66 Z
, G01R 29/08 Z
, G06F 15/60 666 V
Fターム (14件):
4M106AA02
, 4M106AB12
, 4M106AB20
, 4M106BA14
, 4M106CA70
, 5B046AA08
, 5B046BA04
, 5B046JA01
, 5B046JA04
, 5B046JA05
, 9A001GG03
, 9A001HZ32
, 9A001KK37
, 9A001LL08
引用特許: