特許

J-GLOBAL ID：200903095426736493

半導体集積回路装置

発明者： 斉木 伸之
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 田澤 博昭 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-007944
公開番号（公開出願番号）：特開平11-203162
出願日： 1998年01月19日
公開日（公表日）： 1999年07月30日
要約：

【要約】【課題】 出力端子の出力ドライバ能力の評価を行う際の効率が向上する。【解決手段】 テスト用入力端子から入力された信号をもとに、出力端子および入出力端子の出力ドライバからの出力を決定するテスト出力データを生成し出力するとともに、前記出力端子および前記入出力端子から前記出力を得るための制御信号を生成し出力するテスト用制御ロジックと、該テスト用制御ロジックから出力された前記テスト出力データを保持するテスト出力データ保持回路と、該テスト出力データ保持回路に保持された前記テスト出力データと前記制御信号をもとに前記出力端子、入出力端子の全てから前記出力を同時に得るための選択切替回路を備える。

請求項（抜粋）：

出力端子および入出力端子の出力ドライバの能力の測定評価を行うための信号を入力するテスト用入力端子と、該テスト用入力端子から入力された前記信号をもとに、前記出力端子および前記入出力端子の出力ドライバからの出力を決定するテスト出力データを生成し出力するとともに、前記出力端子および前記入出力端子から前記出力を得るための制御信号を生成し出力するテスト用制御ロジックと、該テスト用制御ロジックから出力された前記テスト出力データを保持するテスト出力データ保持回路と、該テスト出力データ保持回路により保持された前記テスト出力データと前記制御信号をもとに、前記出力端子および前記入出力端子の全てから同時に前記出力を得るための選択切替回路とを備えた半導体集積回路装置。

IPC (5件)：

G06F 11/22 340 ,  G01R 31/28 ,  G06F 15/78 510 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (4件)：

G06F 11/22 340 C ,  G06F 15/78 510 K ,  G01R 31/28 V ,  H01L 27/04 T