特許
J-GLOBAL ID:200903095427499240

多層配線基板とその製造方法、及びそれに用いるシリカ焼結体の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 京本 直樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-085129
公開番号(公開出願番号):特開平8-032238
出願日: 1995年04月11日
公開日(公表日): 1996年02月02日
要約:
【要約】【目的】 低誘電率、低誘電損の特性を併せもつ無機材料であるシリカを、低抵抗導体である金、銀、銅等と同時焼成可能となる、これら金属の融点以下で焼結させることを目的とする。【構成】 平均粒径が数nmから数十nmである非晶質シリカ超微粉末よりなる成形体を作製し、この成形体を水蒸気を含む雰囲気中、800°C以上1200°C以下で焼成することにより、十分に焼結し強度のあるシリカ焼結体が得られる。【効果】 上記の方法により得られたシリカ焼結体は十分な強度を示し、誘電率は1MHzにおいて4.0以下であった。また、焼成温度域が低温であるため、低抵抗導体との同時焼成が可能となる。
請求項(抜粋):
絶縁層がシリカ焼結体を95重量%以上含み、かつ導体層が融点800〜1200°Cの導電材料よりなることを特徴とする多層配線基板。
IPC (3件):
H05K 3/46 ,  C04B 35/14 ,  H05K 1/03 610
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開昭61-083674
  • 特開昭60-171781
  • 特開昭61-186259
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