特許
J-GLOBAL ID：200903095430546674
製品の表面欠陥検出方法およびその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
萼 経夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-034326
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201308
出願日： 1995年01月31日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】 鍛造法などによって得た製品の表面に欠陥があるか否かの検査を、確実に行う方法と装置を提供する。【構成】 製品3の表面に光源24からのスポット光を照射すると、製品3はその光エネルギを吸収して発熱する。欠陥部分にはその現象はないので、これを赤外線カメラ28で撮像して判別する。製品3を固定するベース板1側には、傾きを直すとともに高さを調整するための調整手段4を設けておく。そして欠陥検査に先立ち、調整手段4を自動的に作動させて、製品3の傾きを是正するとともに赤外線カメラ28までの距離を調整し、測定が常に正しく行われるようにする。
請求項（抜粋）：
被検査物である製品の表面にスポット光を照射し、前記製品が該スポット光の照射を受けて吸収発熱する熱量が表面の状態によって相違するのを赤外線カメラで撮像することにより製品表面の欠陥を検出すると共に、前記製品表面の向きに対するスポット光の照射方向および赤外線カメラの向きならびに距離が一定値となるように調整することを特徴とする製品の表面欠陥検出方法。
IPC (2件)：
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