特許
J-GLOBAL ID：200903095448752492
実装基板検査装置のコンタクトプローブ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-159754
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029475
出願日： 1994年07月12日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：
【要約】【目的】 2本のコンタクトプローブにて、4端子法による足浮き検査を可能とする。【構成】 1本のコンタクトプローブ30には、第1のプランジャ31及び第2のプランジャ35が絶縁材32を介して一体に備えられている。そしてリード20に1本のコンタクトプローブ30を立て、ランド21に1本のコンタクトプローブ30を立てることにより、リード20上のプランジャ31,35及びランド21上のプランジャ31,31により4つの端子が確保でき、プランジャ31,31間に電流計22を接続しプランジャ35,35間に安定化電源23を接続することにより、リード20とランド21間のハンダ付状態を検査できる。
請求項（抜粋）：
電子部品が実装された実装基板を、コンタクトプローブを有するフィクスチャーで挟み、コンタクトプローブの先端を実装基板の検査点に接触させた状態で前記実装基板の電気的特性を検査する検査装置において、前記コンタクトプローブは、導電材で形成した棒状をなし先端が尖鋭となっている第1のプランジャと、導電材で形成したリング状をなし先端が尖鋭となると共に先端位置が第1のプランジャの先端位置と合っておりしかも第1のプランジャに対し同心配置された第2のプランジャと、第1のプランジャと第2のプランジャとの間に備えた絶縁材とで構成されていることを特徴とする実装基板検査装置のコンタクトプローブ。
IPC (2件)：
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