特許

J-GLOBAL ID：200903095469822083

単分子膜計測方法と分子素子

発明者： 岩本 光正 ,  入山 啓治
出願人/特許権者： 新技術事業団
代理人 (1件)： 西澤 利夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-091248
公開番号（公開出願番号）：特開平6-130000
出願日： 1991年03月28日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：

【要約】【構成】 単分子膜に対する光または電磁気力の外部入力による変化を変位電流として検出する単分子膜の計測方法およびその分子素子への応用。【効果】 構造変化を変位電流としてとらえることができる。分子スイッチ、分子メモリ等への応用が可能。

請求項（抜粋）：

単分子膜に対する光または電磁気力の外部入力による変化を変位電流として検出することを特徴とする単分子膜計測方法。

IPC (6件)：

G01N 23/00 ,  G01J 1/02 ,  G01K 7/00 ,  G01N 21/00 ,  G01N 27/00 ,  H01L 29/28