特許

J-GLOBAL ID：200903095476465628

一次および二次の縦集束を有する飛行時間質量スペクトロメータ

発明者： ドレッシュ,トーマス
出願人/特許権者： アナリチカ オブ ブランフォード,インコーポレーテッド
代理人 (1件)： 金倉 喬二
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-504504
公開番号（公開出願番号）：特表平11-513176
出願日： 1997年07月03日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
要約：

【要約】飛行時間質量スペクトロメータ(TOF-MS)は、解像力および感度の性能を向上させるよう形成される。TOF-MSは、2段階の均質電場(11〜15)を有するイオン加速器と、単一段階の均質電場を有するイオン反射器と、加速器と、第1ドリフト空間(13と20との間)により分離される反射器と、第2ドリフト空間(20と30との間)により反射器(20〜22)から分離されるイオン検出器(40)とからなる電極の配置を備える。同様な配置を有する公知のTOF-MSとは異なり、前記電極に加えねばならない1組の電位は、前記加速器の第1ギャップにて最初に静止しているイオンの空間分布が初期軸座標における一次および二次の焦点に対し長手方向にて検出器の位置で圧縮されるよう所定の配置に予備決定される。したがって、質量解像力は一次の縦集束のみを与えるTOF-MSよりも向上すると共に、飛行路に沿ってグリッド電極を通過する通過回数が減少し、したがってイオン伝達および装置感度も改善される。

請求項（抜粋）：

試料物質からイオンを発生するイオン供給源;2段階イオン加速器と単一段階イオン反射器と第1および第2ドリフト空間と検出器とからなる飛行時間質量スペクトロメータ;一次および二次の縦集束が検出器表面に到達する等しい質量と電荷のイオンにつき得られるよう前記飛行時間質量スペクトロメータにおける電極に電位を設定することにより解像力および感度の増大をうる手段を備えることを特徴とするイオンの質量分析を行う装置。

IPC (3件)：

H01J 49/40 ,  B01D 59/44 ,  H01J 49/10

FI (3件)：

H01J 49/40 ,  B01D 59/44 ,  H01J 49/10