特許

J-GLOBAL ID：200903095503835149

物理量検出装置

発明者： 小町谷 昌宏 ,  於保 茂 ,  嶋田 智 ,  鈴木 清光 ,  笹山 隆生
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-100713
公開番号（公開出願番号）：特開平6-307953
出願日： 1993年04月27日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【目的】簡便な装置構成でかつ高速に広い領域全体における物理量の状態を検出できると同時に、各部分領域における物理量の検出も可能な物理量検出装置を提供すること。また、複数の部分領域に渡る物理量の検出のみでなく、2次元や3次元という複数の成分を有するベクトル的な物理量あるいは複数の異なった物理量を検出することができるなど多成分検出が可能な物理量検出装置を提供すること。【構成】少なくとも1本の光ファイバ,前記光ファイバへの入射光を発生させる少なくとも1つの発光手段,前記光ファイバの出射光を検出する少なくとも1つの受光手段,前記光ファイバに加えられる物理量の印加部の位置情報を与える物理量印加位置情報発生手段、及び前記受光手段と物理量印加位置情報発生手段からの信号を入力して前記光ファイバの各位置での物理量の時間変化を演算する演算手段とを設ける。

請求項（抜粋）：

少なくとも1本の光ファイバ,前記光ファイバへの入射光を発生させる少なくとも1つの発光手段,前記光ファイバの出射光を検出する少なくとも1つの受光手段,前記光ファイバに印加される圧力の加圧部の位置情報を与える加圧位置情報発生手段、及び前記受光手段と加圧位置情報発生手段からの信号を入力して前記光ファイバの各位置での圧力の時間変化を演算する演算手段とを設けた圧力検出装置。

IPC (4件)：

G01L 9/00 ,  F02D 45/00 368 ,  G01L 1/00 ,  G01L 1/24

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-269075
  
• 特開昭62-058115
  
• 特開昭61-013111