特許
J-GLOBAL ID:200903095564987235

試し書き方法、及びこれを用いた光ディスク装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 作田 康夫
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP1999004291
公開番号(公開出願番号):WO2001-011614
出願日: 1999年08月09日
公開日(公表日): 2001年02月15日
要約:
【要約】本発明は情報媒体、特に光を用いて情報を記録する光記録媒体の記録に関する。情報の記録に先だって、従来のアシンメトリ方式の試し書きを相変化光ディスクに適用すると,線形性及び書き換え劣化のマーク長依存性の影響で正確に最適パワーを求めることが困難だった。本発明では、情報媒体に対して、単一パターンもしくはランダムパターンを記録し再生信号からクロックとデータエッジのずれを検出する。このずれに基づいて,記録のしきい値パワーを求め,これを定数倍して記録パワーの最適化を行う。
請求項(抜粋):
記録データパターンに応じて記録条件を制御しながら情報媒体に上記データパターンを記録する過程、 前記情報媒体に記録されたデータパターンを読みとり、再生信号を得る過程、 該再生信号と基準信号の位相ずれ量を検出する過程、 該位相ずれ量を前記データパターンに応じて分類する過程、 前記分類された位相ずれ量に応じて、記録条件を定める過程、 からなることを特徴とする試し書き方法。
IPC (2件):
G11B 7/125 ,  G11B 11/105 553
FI (2件):
G11B 7/125 C ,  G11B 11/105 553 B

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