特許

J-GLOBAL ID：200903095570145963

品質データ分析装置

発明者： 平島 隆登 ,  森 康雄
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 山谷 晧榮
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-213751
公開番号（公開出願番号）：特開平7-065068
出願日： 1993年08月30日
公開日（公表日）： 1995年03月10日
要約：

【要約】【目的】 故障モードや故障部品毎にそれぞれの障害率の増加傾向の検出を自動的に実施できるようにし、また、今後の障害件数の予測を行うことを目的とする。【構成】 修理情報出荷情報格納部1から故障モード又は故障部品毎の障害発生月別の稼働台数と障害件数を集計する発生月別稼働台数障害件数集計部2と、最近の一定期間の障害に有意差があるかを検定するχ2 検定部3と、障害発生月と障害率との相関関係を分析する回帰分析部4と、χ2 検定部3の出力信号と回帰分析部4の出力信号が入力される判定部5を具備する構成とする。

請求項（抜粋）：

修理情報と出荷情報を格納する修理情報出荷情報格納部(1)と、前記修理情報出荷情報格納部(1)から故障モードまたは故障部品毎の障害発生月別の稼働台数と障害件数を集計する発生月別稼働台数障害件数集計部(2)と、過去の一定期間と最近の一定期間を対象期間として前記故障モードまたは故障部品毎に最近の一定期間の障害に有意差があるかを検定するχ2 検定部(3)と、 前記χ2 検定部(3)の対象期間の前記故障モード又または故障部品毎の障害発生月と障害率との相関関係を分析する回帰分析部(4)と、前記χ2 検定部(3)の出力信号と、前記回帰分析部(4)の出力信号が入力される判定部(5)を具備することを特徴とする品質データ分析装置。