特許
J-GLOBAL ID：200903095577858019
電子制御装置の劣化検知装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中島 淳 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-044770
公開番号（公開出願番号）：特開平9-236518
出願日： 1996年03月01日
公開日（公表日）： 1997年09月09日
要約：
【要約】【課題】 電子制御装置の熱負荷による劣化の程度を知る。【解決手段】 電子制御装置10にはコンデンサ12が実装されており、コンデンサ12はパワー素子18が固定されたヒートシンク14に取付けられている。コンデンサ12は発振器20に接続されており、発振器20はコンデンサ12の熱負荷による容量Cの変化によって周波数fが変化するようになっている。発振器20はf-V変換器22を介して判定器24に接続されており、判定器24は、予め記憶した判定基準電圧と、f-V変換器22の出力電圧とを比較して、電子制御装置の劣化の程度を判定し、その結果に基づいて、例えば表示盤30に異常警告信号を出力する。
請求項（抜粋）：
電子制御装置の熱負荷を検出するための熱負荷検出手段と、該熱負荷検出手段からの検出値に基づいて前記電子制御装置の劣化の程度を判断する劣化判断手段と、を有することを特徴とする電子制御装置の劣化検知装置。
IPC (3件)：
G01M 19/00
, B60H 1/00 102
, G01M 17/007
G01M 19/00 Z
, B60H 1/00 102 Z
, G01M 17/00 J
