特許

J-GLOBAL ID：200903095601019490

溶接または半田付け継手のオンライン評価のための光学検査装置

発明者： フリングス,アダム ,  リューベック,ペーター-ミヒァエル ,  シュタイン,ノルベルト
出願人/特許権者： ティッセン シュタール アクチェンゲゼルシャフト ,  フィトロニック ドクトル インジェエーア シュタイン ビルドフェラーバイトゥングジステメ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
代理人 (1件)： 石田 敬 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-525333
公開番号（公開出願番号）：特表平11-500225
出願日： 1996年01月25日
公開日（公表日）： 1999年01月06日
要約：

【要約】本発明は継目(3)を溶接または半田付けによって互いに接合された部品(1、2)のオンライン評価の検査装置に関する。互いに接合された部品(1、2)は、案内装置(4から7)によって、部品の少なくとも一つの側部、好ましく双方の側部に配置された検出器装置(8a、8b)から所定の距離に維持される。検出器装置(8a、8b)は、評価装置も備える検査装置の部分を形成する。少なくとも一つの検出装置(8a)は、継手探査装置(11)、2次元検出器(12)、及び欠陥検出装置(13)及び一般的に3次元継手輪郭検出器(14)を備える。2次元継手検出器、欠陥検出装置(13)および3次元継手輪郭検出器は、継手探査装置(11)によって決定されるその位置に依存して、継手(3)の中心に配置される。評価装置を介して2次元検出器によって欠陥が検出された場合、欠陥検出装置が作動して光区分処理法によって欠陥位置を解析する。また、3次元継手輪郭検出器は、光ビームによる三角測量を組み合わせた光区分処理法によって作動する。すなわち、得られた測定結果は、統計的な工程制御(SPC)及び/または半田付け及び溶接工程の制御、及び製造装置の制御にも使用可能である。

請求項（抜粋）：

部品特に金属板を互いに溶接または半田付けした継手の検査装置であって、 a)互いに接合された部品(1、2)を、案内装置(4、6、6、7)によって検出器装置(8a、8b)から所定距離に保持し、 b)前記継手(3)の位置に関する情報を、継手(3)が存在する場所を測定する光学検出器と、検出器(11a)に接続した評価装置と、を備える継手探査装置(11)によって供給し、 c)前記継手(3)の位置に関する情報に依存して、測定域を前記継手(3)の幅に合わせることができる光学2次元検出器(12)の位置が調整部材(15)によって、前記継手の中心及び前記測定域の中心が整合するように調整され、 d)前記2次元検出器によって検出された2次元欠陥に依存して、欠陥検出装置(13)が作動して欠陥位置を解析する、特徴を有する溶接または半田付けした継手の検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  B23K 1/00 ,  B23K 31/00

FI (3件)：

G01N 21/88 F ,  B23K 1/00 A ,  B23K 31/00 L