特許
J-GLOBAL ID：200903095636396768
絶縁抵抗・低抵抗検査機
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-330808
公開番号（公開出願番号）：特開平9-171040
出願日： 1995年12月19日
公開日（公表日）： 1997年06月30日
要約：
【要約】【課題】 絶縁抵抗測定と抵抗測定を1つの工程で検査し、さらに、被測定端子の表面に形成される絶縁被膜の影響を無くし、正確な抵抗測定を行える絶縁抵抗・低抵抗検査機を提供すること。【解決手段】 絶縁抵抗計12と低抵抗計13と接触ピンPa 〜Pd と接触片Pe とスイッチRa 〜Rd と演算器14と出力装置15とを備え、被測定検査物11の被測定端子a〜dに接触ピンPa 〜Pd を接触させ、被測定検査物11の導電物(コア)に接触片Pe を接触させ、スイッチRa 〜Rd のオフの状態で被測定検査物11の絶縁抵抗測定を行い、次にスイッチRd をオンすると共にスイッチRa ,Rb ,Rc を順次所定時間ずつオンさせて、被測定検査物11に巻回された3本の導電線の抵抗測定を行う。
請求項（抜粋）：
導電物に絶縁物を介在しその上に導電線を巻回して構成され、前記絶縁物には前記導電線の両端と電気的に接続する2つの被測定端子を配設した被測定検査物と、前記被測定検査物の各々の被測定端子に電気的に接触させる2つの接触ピンと、前記導電物に電気的に接触させる接触手段と、2つの測定端子を備え、該2つの測定端子がそれぞれ前記2つの接触ピンの1つと前記接触手段に接続され、前記2つの接触ピンのもう1つを前記被測定検査物の一方の被測定端子に接触させる一方、前記接触手段を前記導電物に接触させて、前記被測定検査物の一方の被測定端子と前記導電物との間の絶縁抵抗を測定する第1の測定手段と、2つの測定端子を備え、該2つの測定端子がそれぞれ前記2つの接触ピンに接続され、前記2つの接触ピンをそれぞれ前記2つの被測定端子に接触させて、前記導電線の抵抗を測定する第2の測定手段と、前記第1の測定手段による絶縁抵抗測定時には、前記第2の測定手段による抵抗測定ラインをオフし、前記第2の測定手段による抵抗測定を行う時には、前記第2の測定手段による抵抗測定ラインをオンするためのスイッチ手段と、前記第1,第2の測定手段の測定結果が規格値内であるか否かを判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果を出力する出力手段とを具備したことを特徴とする絶縁抵抗・低抵抗検査機。
FI (2件)：
G01R 27/02 R
, G01R 27/02 E
