分光測定方法とそれを用いた分光測定器

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：柳野隆生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-086292
公開番号（公開出願番号）：特開平9-281035
出願日： 1996年04月09日
公開日（公表日）： 1997年10月31日
要約：

【要約】【課題】被測定物を高速で搬送しつつその内部性状を短時間で測定することのできる分光測定方法とそれを用いた分光測定器を提供すること。【解決手段】分光測定方法としては、所定の方向に照射された複数の測定用光路に対して、被測定物を移動通過させることによって前記被測定物に測定用光を照射し、複数の測定用光路に対応して得られる被測定物からの特定の波長または波長領域の光を被測定物が測定用光路を通過中に選択的に受光することを特徴とし、分光測定器としては上記分光測定方法を用い、所定方向に配列した複数個の測定用光照射手段1からの測定用光に対して、被測定物移動手段9を挟んで受光手段5を配し、被測定物が測定用光路を通過中に測定を行うことを特徴的構成としている。

請求項（抜粋）：

所定の方向に照射された複数の測定用光路に対して、被測定物を移動通過させることによって前記被測定物に測定用光を照射し、複数の測定用光路に対応して得られる被測定物からの特定の波長または波長領域の光を被測定物が測定用光路を通過中に選択的に受光することを特徴とする分光測定方法。

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平4-204354
光学的測定方法及びその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-041944 出願人：財団法人雑賀技術研究所
特開平4-348258

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