特許

J-GLOBAL ID：200903095709796298

電気光学装置の製造方法、電気光学装置、および電子機器

発明者： 藤川 紳介
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 上柳 雅誉 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-074303
公開番号（公開出願番号）：特開2003-271067
出願日： 2002年03月18日
公開日（公表日）： 2003年09月25日
要約：

【要約】【課題】 検査用端子の形成位置を改良して、表示に直接、寄与しない領域を狭めることのできる電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器を提供すること。【解決手段】 液晶装置100のTFTアレイ基板10は、大型基板の状態で各構成要素が形成された後、データ線6a、走査線3a、データ線駆動回路101、走査線駆動回路104などが検査され、しかる後に、大型基板から切り出される。従って、液晶装置100の完成後は不要となる検査用端子131、132、133、134、135、136については、大型基板のうち、TFTアレイ基板10として切り出される領域外に形成する。

請求項（抜粋）：

電気光学装置用基板を配置してなる大型基板上の、電気光学装置用基板を切り出す領域内に画像表示領域を構成する複数の画素を形成するとともに、当該画像表示領域の外周領域に検査回路、複数の検査用配線、および複数の検査用端子を形成する第1工程と、当該複数の検査用端子の一部あるいは全部に検査用電極を接触させて電気的検査を行う第2工程と、前記大型基板からの前記電気光学装置用基板を切り出す第3工程とを有する電気光学装置の製造方法において、前記複数の検査用端子のうちの少なくとも一部については、前記大型基板において前記電気光学装置用基板として切り出される領域外に形成することを特徴とする電気光学装置の製造方法。

IPC (10件)：

G09F 9/00 338 ,  G09F 9/00 348 ,  G09F 9/00 352 ,  G02F 1/1345 ,  G02F 1/1368 ,  G09F 9/30 330 ,  G09F 9/30 338 ,  G09F 9/35 ,  H01L 29/786 ,  H05B 33/14

FI (11件)：

G09F 9/00 338 ,  G09F 9/00 348 C ,  G09F 9/00 352 ,  G02F 1/1345 ,  G02F 1/1368 ,  G09F 9/30 330 Z ,  G09F 9/30 338 ,  G09F 9/35 ,  H05B 33/14 A ,  H01L 29/78 612 B ,  H01L 29/78 624

Fターム (59件)：

2H092GA33 ,  2H092GA44 ,  2H092GA59 ,  2H092JA24 ,  2H092NA25 ,  2H092NA30 ,  2H092PA06 ,  3K007AB18 ,  3K007CC05 ,  3K007DB03 ,  3K007FA00 ,  3K007GA00 ,  5C094AA07 ,  5C094AA15 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094AA46 ,  5C094AA48 ,  5C094BA03 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094DA09 ,  5C094DA13 ,  5C094DB01 ,  5C094DB02 ,  5C094DB04 ,  5C094EA03 ,  5C094EA04 ,  5C094EA05 ,  5C094EA06 ,  5C094EB02 ,  5C094FA01 ,  5F110AA24 ,  5F110BB02 ,  5F110BB04 ,  5F110BB20 ,  5F110CC02 ,  5F110DD13 ,  5F110EE28 ,  5F110FF02 ,  5F110GG25 ,  5F110HM14 ,  5F110HM15 ,  5F110NN04 ,  5F110NN23 ,  5F110NN24 ,  5F110NN73 ,  5F110QQ11 ,  5G435AA17 ,  5G435AA18 ,  5G435BB12 ,  5G435BB15 ,  5G435BB16 ,  5G435CC09 ,  5G435EE37 ,  5G435HH12 ,  5G435HH13 ,  5G435HH14 ,  5G435KK05