特許
J-GLOBAL ID：200903095713305517
散乱X線補正法及びX線CT装置並びに多チャンネルX線検出器
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-274171
公開番号（公開出願番号）：特開平7-124150
出願日： 1993年11月02日
公開日（公表日）： 1995年05月16日
要約：
【要約】【目的】 散乱X線量の検出は1種類のX線検出器によってのみ行い、X線データを適切に処理してコストアップせず高い精度で散乱X線処理が可能なX線CT装置の提供を目的とする。【構成】 X線実測値をLog変換し(F4)、このLog変換後のX線実測値の全チャンネル分の加算値を求め(F7)、この加算値からリニア領域での散乱X線補正量を求め(F8)、上記Log変換後のX線実測値を逆Log変換(F6)してリニア領域のX線実測値にし、このリニア領域のX線実測値から前記散乱X線量を差し引いて散乱X線補正を行う(F9)。
請求項（抜粋）：
X線実測値をLog変換し、このLog変換後のX線実測値からリニア領域での散乱X線補正量を求め、上記Log変換後のX線実測値を逆Log変換してリニア領域のX線実測値にし、このリニア領域のX線実測値から前記散乱X線補正量を差し引いて散乱X線補正を行う散乱X線補正法。
IPC (3件)：
A61B 6/03 350
, A61B 6/03 320
, G01N 23/04
