特許

J-GLOBAL ID：200903095716190249

高反射減衰量型受光装置

発明者： 大木 一弘 ,  佐藤 佳宣 ,  江間 伸明
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-225667
公開番号（公開出願番号）：特開平10-068843
出願日： 1996年08月27日
公開日（公表日）： 1998年03月10日
要約：

【要約】【課題】 安定かつ正確な測定が可能であり、さらに、安全かつ低コストの高反射減衰量型受光装置を提供すること。【解決手段】 被測定光プラグ1は、被測定光ファイバを固定すると共に、その出射端にはPC研磨が施されている。短尺フェルール2は、内部にグレーデッドインディクスファイバ6が設けられている。また、短尺フェルール2の入射端にはPC研磨が施されており、同短尺フェルール2の出射端には斜め研磨が施されている。レセプタクル3は、被測定光プラグ1および短尺フェルール2を、本受光装置に固定する。受光素子4は、短尺フェルール2内のグレーデッドインディクスファイバ6を伝播した光を受光する。受光素子固定用ブロック5は、受光素子4を固定する。

請求項（抜粋）：

光ファイバの一端を保持し、その出射端にはPC研磨が施されている被測定光プラグ1と、内部にグレーデッドインディクスファイバ6を有すると共に、その入射端にはPC研磨が施されており、その出射端には斜め研磨が施されている短尺フェルール2と、被測定光プラグ1の出射端と短尺フェルール2の入射端とを接触接続するレセプタクル3と、短尺フェルール2内のグレーデッドインディクスファイバ6を伝播した光を受光する受光素子4と、短尺フェルール2の出射端と受光素子4の受光面とを向き合わせて固定する受光素子固定用ブロック5とを具備することを特徴とする高反射減衰量型受光装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-134314
  
• 特開昭60-101509
  
• 特開平1-134314
  
• 特開昭60-101509