特許

J-GLOBAL ID：200903095756063797

回路基板検査装置

発明者： 入木田 実文 ,  飯野 欽三
出願人/特許権者： グラフテツク株式会社
代理人 (1件)： 山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-185842
公開番号（公開出願番号）：特開平5-011022
出願日： 1991年07月01日
公開日（公表日）： 1993年01月19日
要約：

【要約】【目的】 回路基板上に搭載された不良部品を速やかに特定すると共に、回路基板の検査時間の短縮化を図る。【構成】 電気部品を実装した基板の検査を行う場合、まずこの電気部品により構成された全体の電気回路を分割し、分割された回路ブロックのファンクションテストをファンクションテスト部15に実施させてその良否を判定し、このファンクションテストの結果、否と判定された場合はインサーキットテスト部14によりこの不良回路ブロックのインサーキットテストを実施させて不良部品の特定を行う。この結果、従来の各テスト方法に比べ正確かつ迅速なテストを行うことが可能となり、大ロット生産の回路基板を検査する際には極めて有効となる。

請求項（抜粋）：

電気部品等が実装された回路基板の良否を検査する回路基板検査装置において、回路基板に対し上下,左右へ移動する少なくとも1対の検査プローブと、この検査プローブにより検出された前記回路基板からの信号をファンクションテスト部またはインサーキットテスト部へ送出させる信号切換部と、前記ファンクションテスト部へ指示して前記回路基板の検査を実施させると共にこの検査結果が否と判定された場合は前記インサーキットテスト部に対し検査の指示を行う制御部と、前記検査を実施する際に基準となるデータを格納するメモリとを備えたことを特徴とする回路基板検査装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-116677
  
• 特開昭62-121375
  
• 特開昭54-123054