特許
J-GLOBAL ID：200903095764237176
X線回折装置及びX線回折測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 寿武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-007273
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206059
出願日： 1999年01月14日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：
【要約】【課題】 試料の多数の異なる位置のX線回折測定を効率的に行えるようにする。【解決手段】 赤道面に対し傾きをもって試料の結晶格子面から回折してくる回折X線束bに対して、X線検出器5の受光面5aがほぼ直交するように、赤道面に対するX線検出器5の傾き角を調節する。
請求項（抜粋）：
発散X線を放射するX線源と、前記X線源から放射された発散X線を単色化するとともに線状に収束する湾曲モノクロメータと、前記湾曲モノクロメータで反射したX線束が線状に収束する位置に試料表面を配置する試料配置手段と、試料の結晶格子面で回折してくる回折X線束を検出するX線検出器とを備え、所定の赤道面上に前記X線源、湾曲モノクロメータ及び試料表面を配置したX線回折装置であって、前記赤道面に対し傾きをもって試料の結晶格子面から回折してくる回折X線束に対して、前記X線検出器の受光面がほぼ直交するように、赤道面に対するX線検出器の傾き角を調節する検出角度調節手段を設けたことを特徴とするX線回折装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 23/207
, G21K 1/06 K
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA09
, 2G001EA02
, 2G001EA09
, 2G001GA13
, 2G001HA09
, 2G001JA06
, 2G001JA20
, 2G001KA08
, 2G001SA01
, 2G001SA10
