特許
J-GLOBAL ID:200903095794442661

複合セラミック膜による酸素分離法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 倉内 基弘 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-501554
公開番号(公開出願番号):特表2003-534906
出願日: 2001年05月24日
公開日(公表日): 2003年11月25日
要約:
【要約】酸素イオン及び電子を伝導することができる複合膜を使用して酸素含有ガスから酸素を分離する方法。この複合膜は、そのカソード側において操作温度及び酸素含有ガスを受ける。複合膜は、稠密層(10)と、該稠密層(10)に隣接する少なくとも1つの活性多孔質層(14)と、少なくとも1つの多孔質支持体層(16、18、20)とを有する。活性多孔質層(14)は、ある厚さと、その厚さが定数と多孔質層(14)の厚さ(t3)を通る最大酸素流束を生じる理論半径の平方根との積にほぼ等しいときに該理論半径からの標準偏差を有する細孔半径(r3)の分布とを有する。
請求項(抜粋):
酸素イオン及び電子を伝導することができる複合膜を用いて酸素含有ガスから酸素を分離するに当たり、 前記複合膜に、そのカソード側に高い方の酸素分圧そしてそのアノード側に低い方の酸素分圧を設定して操作温度及び酸素含有ガスを受けさせる、ことを含み、しかも、 前記複合膜は、稠密層(10;22)と、該稠密層(10)に隣接する少なくとも1つの活性多孔質層(14;21)と、少なくとも1つの多孔質支持体層(16、18、20;24、25、26)とを有し、 前記活性多孔質層(14;21)は厚さ(t3)及び細孔半径(r3)の分布を有し、細孔半径(r3)の分布は細孔半径(r3)の対数の分布における標準偏差を有し、その標準偏差は1.45と形状係数との積に等しく、この形状係数は0.0よりも大きいが約0.5よりも大きくなく、厚さ(t3)は定数と面積重量平均細孔半径の平方根との積にほぼ等しく、そしてその定数は、該活性多孔質層(14;21)を形成するのに使用される材料、該操作温度、該活性多孔質層(14;21)内の酸素分圧、並びに細孔の配列によって形成された多孔率及び屈曲度の函数であることからなる、酸素含有ガスからの酸素分離法。
IPC (4件):
B01D 69/12 ,  B01D 53/22 ,  B01D 71/02 500 ,  C01B 13/02
FI (4件):
B01D 69/12 ,  B01D 53/22 ,  B01D 71/02 500 ,  C01B 13/02 Z
Fターム (17件):
4D006GA12 ,  4D006GA41 ,  4D006MA02 ,  4D006MA06 ,  4D006MA09 ,  4D006MA22 ,  4D006MA26 ,  4D006MA27 ,  4D006MA31 ,  4D006MB15 ,  4D006MB19 ,  4D006MC02 ,  4D006MC03 ,  4D006PA02 ,  4D006PB62 ,  4G042BA30 ,  4G042BA31
引用特許:
審査官引用 (3件)

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