特許

J-GLOBAL ID：200903095819956436

不揮発性メモリ回路を内蔵した半導体集積回路

発明者： 矢田 直樹
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ
代理人 (1件)： 大日方 富雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-069803
公開番号（公開出願番号）：特開2000-268019
出願日： 1999年03月16日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】 不揮発性メモリ回路および発振器を内蔵したマイクロコンピュータ等の半導体集積回路において、プロセスばらつきにより発振周波数がばらついても正確なパルス幅を有する書込みパルスや消去パルスを形成してメモリの書込み、消去を行なうことができるようにする。【解決手段】 不揮発性メモリ回路および発振器を内蔵したマイクロコンピュータ等の半導体集積回路において、内部発振器(OSC)の発振周波数を調整可能なトリミング回路(S1〜Sn,C1〜Cn)と、発振器の発振周波数を計数する第1のカウンタ(31)と、外部から供給されるクロックもしくはそれから派生するクロックを計数する第2のカウンタ(32)と、第1のカウンタの計数値と第2のカウンタの計数値を比較して一方の周波数から他方の周波数を判定する周波数測定手段(34,CPU)とを設けるようにした。

請求項（抜粋）：

不揮発性メモリ回路および発振器を内蔵した半導体集積回路において、内部発振器の発振周波数を調整可能なトリミング回路と、前記発振器の発振周波数を計数する第1のカウンタと、外部から供給されるクロックもしくはそれから派生したクロックを計数する第2のカウンタと、前記第1のカウンタの計数値と第2のカウンタの計数値を比較して一方の周波数から他方の周波数を判定する周波数測定手段とを設けたことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (7件)：

G06F 15/78 510 ,  G11C 16/02 ,  H01L 27/115 ,  H01L 27/10 481 ,  H01L 21/8247 ,  H01L 29/788 ,  H01L 29/792

FI (6件)：

G06F 15/78 510 P ,  H01L 27/10 481 ,  G11C 17/00 611 E ,  G11C 17/00 612 E ,  H01L 27/10 434 ,  H01L 29/78 371

Fターム (24件)：

5B025AA00 ,  5B025AB00 ,  5B025AC00 ,  5B025AD04 ,  5B025AD08 ,  5B025AD09 ,  5B025AD15 ,  5B025AE00 ,  5B025AE08 ,  5B062AA08 ,  5B062CC01 ,  5B062DD06 ,  5B062DD10 ,  5B062HH01 ,  5B062HH04 ,  5F001AE02 ,  5F001AE08 ,  5F001AE50 ,  5F001AG40 ,  5F083ER22 ,  5F083GA17 ,  5F083GA30 ,  5F083LA10 ,  5F083ZA13